Датчик фотоэлектрический отражения SICK G6 GL6-F7511 433903
(Москва, Пресненская наб., 12 «Башня Федерация. Москва-Сити», этаж 42)
ХАРАКТЕРИСТИКИ
ОПИСАНИЕ
Фотоэлектрический датчик отражения Sick G6 GL6-F7511 (433903) — это компактное промышленное устройство для обнаружения объектов, работающее по принципу отражения от рефлектора с использованием двойной линзы. Датчик разработан известным производителем Sick и предназначен для применения в автоматизации производственных процессов, транспортных системах и других промышленных задачах, где требуется надежное и точное определение наличия объектов на заданном расстоянии.
Датчик оснащён светодиодным источником видимого красного света с длиной волны 650 нм и обеспечивает размер светового пятна 8 мм на расстоянии 350 мм. Корпус устройства выполнен из прочного пластика (ABS/PC), а оптика — из пластика PMMA. Габариты корпуса составляют 12 x 31,5 x 21 мм, что позволяет использовать его в ограниченных по пространству местах. Датчик поддерживает питание в диапазоне 10–30 В DC, имеет PNP-комплементарный выход, переключение по светло/темному принципу, частоту переключения до 1000 Гц и время отклика менее 625 мкс. Подключение осуществляется через разъем M12 (4 контакта, длина кабеля 300 мм, материал PVC, сечение провода 0,14 мм²).
Датчик предназначен для эксплуатации в диапазоне температур от –25 °C до +55 °C, а при хранении — от –40 °C до +70 °C. Класс защиты IP67 обеспечивает устойчивость к воздействию пыли и влаги, что делает устройство подходящим для использования в сложных промышленных условиях. Благодаря высокой надежности (MTTFd: 2967 лет) и наличию схем защиты от переполюсовки, инверсии полярности и короткого замыкания, датчик гарантирует стабильную работу в автоматизированных системах.
В комплект поставки входит сам датчик с разъемом M12 и кабелем. Гарантийный срок составляет 12 месяцев. Устройство сертифицировано по стандарту CE. Доставка возможна от 3 рабочих дней до склада в Германии. Данный датчик рекомендуется для предприятий, где требуется компактное решение для точного и быстрого обнаружения объектов в автоматизированных процессах.
